SPECTRO xSORT光譜儀可以在極短的時間內(nèi)達(dá)到非常低的檢測下限，因此在現(xiàn)場測試中可以快速提供實(shí)驗(yàn)室等級的測試結(jié)果。

斯派克熒光光譜儀有哪些特點(diǎn)？

重量輕、精度高

從外形上看，設(shè)備體積小、重量輕。在使用上來說，設(shè)備分析精度高、可靠性佳、一體化程度高，集多種應(yīng)用于一體，特別適用于高精度材料成分快速檢測。

操作簡便

儀器在Windows CE操作系統(tǒng)上建立斯派克的分析軟件，操作極為方便。

半定量 (定量) 程序

配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序。可對任何*未知的樣品進(jìn)行‘解剖’分析。與其他同類儀器相比，F(xiàn)P更為接近(符合)實(shí)際，在此程序中采用了數(shù)千種標(biāo)準(zhǔn)樣品，實(shí)測結(jié)果并予以固化。

分析范圍廣、速度快

根據(jù)用戶需要進(jìn)行擴(kuò)展，以滿足粉末，礦石，土壤,液體,涂鍍層等不同樣品更多的分析測試要求，測量元素可達(dá)40種以上。可在大氣中現(xiàn)場快速無損地（2秒顯示牌號和實(shí)驗(yàn)室級的分析結(jié)果/額外增加5秒可分析Mg，Al，Si，P，S）分析檢測并鑒別出各種不銹鋼、低合金鋼、有色合金以及金屬等材質(zhì)中的常量和微量元素含量，檢出限可達(dá)ppm級。

工作效率高

SDD技術(shù)使分析所占用的X射線開啟時間顯著減少，同樣的儀器使用條件下可以測試更多的樣品，使工作效率得到有效提升。先進(jìn)的Peltier電制冷硅漂移SDD（Sillicon Draft detector）計數(shù)器，配備全優(yōu)于傳統(tǒng)Si-PIN計數(shù)器的信號處理速度和能量分辨率，有效地防止計數(shù)溢出造成的漏計。

安全、快速無損

不同的激發(fā)條件，對元素周期表中Mg – U 的所有元素均有理想的激發(fā)效果，操作時間減少，減少了X射線對操作人員造成傷害的可能性，是真正意義的安全、快速無損現(xiàn)場檢測設(shè)備。復(fù)合濾光片 (多金屬復(fù)合材料) 設(shè)計，減少了由更換濾波片造成的分析時間的浪費(fèi)（高縮短5倍時間）。

人機(jī)功效學(xué)原理

儀器采用分級密碼，重要的數(shù)據(jù)得到保護(hù)。標(biāo)準(zhǔn)USB接口方便數(shù)據(jù)傳出。人機(jī)功效學(xué)原理，一體化的ePC可以完成諸如多種操作，如：測試操作、儀器控制、自動識別、背底扣減、譜峰重疊、堆砌峰/逃逸峰校正和定量計算等。

結(jié)果的準(zhǔn)確性

Interlock安全互鎖和硬體快門的設(shè)定，如未檢測到測試樣品，快門互鎖裝置會于200毫秒內(nèi)自動關(guān)閉快門并同時切斷X射。快門即為目前所有品牌中只有斯派克做到了的內(nèi)置的ICAL自校準(zhǔn)樣品、自動校準(zhǔn)儀器，快門能幫助自動修正偏差，無需外置自校準(zhǔn)標(biāo)樣，后確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。連鎖保護(hù)功能可以大程度保護(hù)操作人員的人身安全。

多種校正模式

儀器具有多種校正模式(數(shù)學(xué)模型)(方法)，在定量分析中可充分應(yīng)用，以取得佳的分析結(jié)果。方法包括: 基本參數(shù)法、盧卡斯經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、質(zhì)量吸收系數(shù)法、基體匹配校正等等。